为汇聚行业智慧、迎接LTE多模多频段终端测试的挑战，大唐联仪作为领先的LTE终端解决方案提供商，于2013年12月6日在上海成功举办了“LTE终端测试应用方案研讨会”。工信部电信研究院、大唐电信科技产业集团、和联芯科技等业内专家，以及以上海为中心的华东主要品牌、方案、EMS厂商应邀参加了会议。
2013年12月4号4G牌照的发放，正式开启了LTE商用大幕。在4G时代，2G、3G、4G网络长期并存已经成为业界共识。因此，LTE终端要支持多模多频成为了三大运营商的基本要求。而这也给终端研发、测试、生产带来了巨大挑战。如何发挥协同效应、从容应对这种挑战，就成为仪表、芯片、终端研发以及生产厂商等终端产业链各环节共同努力的目标。
研讨会现场，业内专家们就LTE终端入库测试要求、LTE国内外标准、产业发展最新状态和趋势、LTE一致性测试、终端研发、生产应用测试方案、以及业内芯片、终端厂商的技术方案展开了全面、深入的交流。
除了主题演讲外，研讨会现场还演示了大唐联仪针对LTE多模多频终端量身定制的系列测试解决方案: ECT7310终端协议一致性测试系统；CTP3110针对LTE多模多频终端的研发、生产应用测试等，覆盖芯、终端开发、生产，认证测试、运营商入库测试等主要内容。
此次会议内容新颖、信息量大，与会者切身感受并体验到了业界领先的LTE测试解决方案，得到了与会嘉宾的高度认可。大唐联仪将紧贴客户需求，不断推陈出新，通过为客户提供量身定制的测试解决方案来快速化解LTE时代带来的各种挑战。
