全球网络、服务及设备测试领域的领导者思博伦通信今天宣布，公司已经与Signals Research Group（SRG）合作，对爱立信、HiSilicon、英特尔、MediaTek、高通和三星出产的六种具备4类（Cat 4）能力的LTE芯片组进行数据吞吐性能方面的测试。这项研究不仅包含了商用芯片组，还涉及尚未投入商用的产品，并是一系列整体LTE芯片组性能分析活动的组成部分，而该系列还将在未来的报告中包含LTE TDD和载波聚合。
这项测试的关键结论包括：
* 从每项测试中显示出的平均吞吐量来看，三星的预商用芯片组拥有最强的性能。
* 结果表明，在更具挑战性的条件下，性能的差异将会扩大（低信号强度和高干扰）。
SRG总裁Michael Thelander指出：“当预商用的芯片组整体性能表现最佳时，我们还要考虑到其它的因素，例如严格的运营商验收测试，而此类测试很可能会发现未列入我们研究范围的其它问题。对于三星面言，这一问题并不严重，因为该公司已经将其它LTE芯片组投入商用状态。另外，值得注意的是，性能最好的芯片组并不一定就能造就性能最好的移动设备，因为不佳的天线设计或未经优化的RF前端都有可能导致RF性能严重恶化 ,而这一点已经在我们与思博伦共同举办的上一次研究中得到了验证。” 思博伦CS8移动设备测试系统使SRG能够在相同的条件下对各种芯片组进行测量，并且捕捉关键性能指标（KPI），从而使人们能够深入理解为何有些设备/芯片组会有与众不同的表现。思博伦CS8为研究提供了更多的价值，因为近期发布商用LTE网络的多家移动运营商都已经采用该系统。
思博伦通信副总裁Nigel Wright表示：“自2007年最初的Signals Research Group芯片组基准研究以来，思博伦能够再次与SRG合作并展示数据吞吐性能方面的不断演化，让我们兴奋不已。与最早的研究相比，今天观察到的峰值数据速率已经提高了约30倍，这些
结果再次证明了LTE的巨大潜力，并且显示出LTE在下一代芯片组和设备所处的复杂环境中所具备的性能范围。”
这项研究包括对业界部分最常用的移动芯片组的LTE FDD数据吞吐性能进行测试。SRG测试了4类模式下的所有芯片组。4类设备能够在一个20 MHz FDD信道中支持最高150 Mbps的速率，而3类设备仅能支持100 Mbps。在这项研究中，这些芯片组被置于29种混合了衰减剖面、传输模式和不同MIMO关联因素的不同场景之下，并且采用思博伦的CS8测试平台执行所有的测试。
