当前，全球通信产业已全面步入4G发展的新时期，TD-LTE作为TD-SCDMA的长期演进标准，已得到全球通信产业的广泛认同。截止到2014年2月，全球已部署79个网络，32个商用网络。我国工信部也于2013年12月向国内三大运营商发布了3张4G TD-LTE牌照，开启了我国4G LTE发展的新纪元。
2014年，支持LTE的多模多频芯片和智能终端将大量上市，芯片和终端不仅面临研发如何准确把握和满足运营商及市场需求的挑战，同时面临量产带来的测试效率和测试成本的挑战。为了推动TD-LTE终端产业快速发展，2014年4月25日，国内领先的无线终端测试厂商大唐联仪携手TD产业联盟在北京举办“LTE产业终端测试研讨会”。本次研讨会特别邀请了工信部、工信部电信研究院、无线电监测中心、泰尔终端实验室、中国移动、TDIA、联发科和大唐联仪的行业专家就LTE国内外市场发展趋势、终端芯片发展趋势和挑战、LTE终端测试发展趋势以及终端一致性测试方案、终端综合测试方案和信号分析仪测试方案等议题展开深入的交流研讨。
除了议题演讲外，现场大唐联仪还展示了LTE无线终端研发、认证、准入和生产各环节的全面测试解决方案，不仅包括传统的协议一致性测试仪表，而且还首次发布和展示了八端口综测仪CTP3308、十六端口综测仪CTP3316以及信号分析仪MSA5126。CTP3308作为研发测试用表，支持4*4MIMO，CA（载波聚合）等特性，更有效支持终端研发全方位满足运营商和客户需求；CTP3316作为生产测试用表，支持四通道并行测试，乒乓测试等特性，可显著提升生产测试效率、降低测试成本;而MSA5126是一款多功能高性能信号分析仪，支持频谱仪、信号源、信号分析等多种功能测试，将有效支撑认证机构、各厂家研发部门搭建自己高效、低成本的射频测试系统。
本次研讨会在LTE终端大规模量产前召开，产业界各界同仁共同分析和探讨了LTE智能终端和测试中的热点问题，将有力地推动LTE智能终端产业快速、健康、有序发展。
